澳门威斯尼斯人0033(官方wns认证)-Application program

首页

>技术资料>应用说明

材料表征仪器有哪些?
发布时间:2024-04-30    来源:澳门威斯尼斯人0033高压电源    浏览量:122

1.透射电子显微镜 (TEM)

eacac2d58c51c4b16bf0b142e501882.png

效果:穿透式电子显微镜分析时,通常是利用电子成像的绕射对比,作成明视野或暗视野影像,并配合绕射图样来进行观察

原理:透射电子显微镜是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上,电子与样品中的原子碰撞而改变方向,从而产生立体角散射

优点:透射电镜可用于观测微粒的尺寸、形态、粒径大小分布状况、粒径分布范围等,并用统计平均方法计算粒径一般的电镜观察的是产物粒子的颗粒度而不是晶粒度


2.X射线衍射仪 (XRD)

1714465086043.png

效果:样品的成分,尤其是晶体结构的材料,可以测得晶体的点阵常数,组成以及定量计算和模拟等

原理:XRD(X射线衍射)是一种材料分析技术,其原理是将X光线照射到材料上,产生散射,观察被散射的X光线的衍射图案,从中确定材料晶格结构和化学成分等信息

优势:精确测定物质的晶体结构,织构及应力,精确的进行物相分析,定性分析,定量分析

3.电感耦合等离子体质谱仪 (ICP-MS) 

电感耦合等离子体发射光谱仪 (ICP-OES) 等

1714465117775.png

效果:可以精确得到样品中某种无机金属元素含量特别是微量金属元素含量

适合分析材料:高纯有色金属及其合金;金属材料电源材料、贵金属,电子、通讯材料及其包装材料医疗器械及其包装材料

应用领域:冶金、地矿、建材、机械、化工、农业环保、食品和医药等多种领域

4.扫描电子显微镜 (SEM)

1714465149079.png

效果:穿透式电子显微镜分析时,通常是利用电子成像的绕射对比,作成明视野或暗视野影像,并配合绕射图样来进行观察

原理:电子枪透过热游离或是场发射原理产生高能电子束经过电磁透镜组后,可以将电子束聚焦至试片上,利用扫描线圈偏折电子束,在试片表面上做二度空间的扫描

优点:扫描电子显微镜是一种多功能的仪器、具有很多优越的性能、是用途最为广泛的一种仪器。它可以进行如下基本分析:

(1)三维形貌的观察和分析;

(2)在观察形貌的同时,进行微区的成分分析。

5.拉曼光谱

1714465181323.png

拉曼光谱是一种研究物质结构的重要方法,特别是对于研究低维纳米材料,它已经成为首选

方法之一。

利用拉曼光谱可以对材料进行分子结构分析理化特性分析和定性鉴定等,可揭示材料中的空位、间隙原子、位错、晶界和相界等方面信息。 

6.有机元素分析仪

1714465203997.png

效果:定量分析C、H、0、N、S等几种有机样品中常见元素,是分析常用手段

适合分析材料:在研究有机材料及有机化合物的元素组成等方面具有重要作用

应用领域:广泛应用于土壤、化工、环境、食品行业

7.原子力显微镜 (AFM) 原子力显微镜-红外联用 (AFM-IR联用)

1714465232325.png

效果:AFM可以对样品表面形貌进行真正意义上的3维分析,AFM和红外联用可以同时对AFM图上任意一个区域进行红外官能团分析,做官能团的mapping,对复合材料多层材料、微观相分离物质非常有效

原理:将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定,另一端有一微小的针尖,针尖与样品表面轻轻接触,由于针尖尖端原子与样品表面原子间存在极微弱的排斥力,通过在扫描时控制这种力的恒定,带有针尖的微悬臂将对应于针尖与样品表面原子间作用力的等位面而在垂直于样品的表面方向起伏运动。利用光学检测法或隧道电流检测法,可测得微悬臂对应于扫描各点的位置变化,从而可以获得样品表面形貌的信息

8.傅里叶一红外光谱仪

image.png

优势:红外光谱仪是基于对干涉后的红外光进行傅里叶变换的原理而开发的红外光谱仪,主要由红外光源、光阑、干涉仪(分束器、动镜、定镜)、样品室、检测器以及各种红外反射镜、激光器、控制电路板和电源组成。

光源发出的光被分束器(类似半透半反镜)分为两束,一束经透射到达动镜,另一束经反射到达定镜。两束光分别经定镜和动镜反射再回到分束器,动镜以一恒定速度作直线运动因而经分束器分束后的两束光形成光程差,产生干涉。干涉光在分束器会合后通过样品池,通过样品后含有样品信息的干涉光到达检测器,然后通过傅里叶变换对信号进行处理最终得到透过率或吸光度随波数或波长的红外吸收光谱图 

9.X射线光电子能谱 (XPS)

image.png

效果:XPS已发展成为具有表面元素分析、化学态和能带结构分析以及微区化学态成像分析等功能强大的表面分析仪器

原理:X射线光电子能谱简称XPS或ESCA,就是用X射线照射样品表面,使其原子或分子的电子受激而发射出来测量这些光电子的能量分布,从而获得所需的信息

优点:XPS作为研究材料表面和界面电子及原子结构的最重要手段之一,原则上可以测定元素周期表上除氢、氦以外的所有元素

10.比表面积测试仪 (BET)

1714465305252.png

效果:分析多孔材料比表面积,孔型,孔径,孔分布等催化、粉体制备等领域常用仪器

原理:气体吸附法是依据气体在固体表面的吸附特性,在一定压力下,被测样品(吸附剂》表面在超低温下对气体分子(吸附质)的可逆物理吸附作用,并对应一定压力存在确定的平衡吸附量。通过测定平衡吸附量,利用理论模型等效求出被测样品的比表面积

优势:比表面测试仪广泛应用于石墨、电池、稀土、陶瓷、氧化铝、化工等行业及高校粉体材料的研发、生产、分析、监测环节

XML 地图