电子显微镜
电子显微镜是通过向物体施加电子（电子束）来观察物体的显微镜。在普通显微镜（光学显微镜）中，光（可见光）照射在被观察物体上，反射光被放大后观察物体。然而，电子显微镜在物体上是要电子而不是光。
与可见光相比，电子束具有更短的波形，因此具有更高的分辨率。这是因为它可以检测到无法通过可见光捕获为"差异"的步骤和其他差异。这使得观察工程显微镜无法观察到的非常小的物体成为可能。
根据用途和目的，电子显微镜的种类很多，但大致分为透射电子显微镜（TEM）和扫描电子显微镜（SEM）两大类。
透射电子显微镜将电子束应用于样品并在放大光下观察透射电子。在投射电子显微镜中，对电子束施加电压并加速穿透物体。因此，只有可以被电子束穿透的薄材料才能用于观察。
扫描电子显微镜在真空中向样品表面施加窄聚焦的电子束，并接收物体发射的电子作为信号。不仅可以获得样品表面不平整的图像，还可以同时获得样品的成分数据。电子显微镜需要高性能电源来产生电子束。
扫描电子显微镜（SEM）是电子显微镜的一种。通过使用波长比光更短的电子，您可以看到比使用可见光的光学显微镜更精细的图像。
扫描电子显微镜用电子束在真空中变窄的电子束扫描样品，并根据施加电子束的坐标信息构建和显示图像。通常，在入射电子的影响下使用从物体发射的二次电子来获取图像。除了二次电子图像，扫描电子显微镜还可以检测背散射电子、透射电子、X射线、阴极发光、内电动势等，并分析样品成分数据等各种信息。
在扫描电子显微镜中，使用透射电子的称为 STEM（扫描电子显微镜）。在某些情况下，扫描电子显微镜会对样品台施加负偏压以获得清晰的图像。
澳门威斯尼斯人0033拥有一系列可用于电子显微镜的电源。示例：EM ; SEM ; HEM ; EIB ; HSEM.
